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一、假定电流互感器有嗡嗡动态,应查看内部铁心是不是松动,可将铁心螺栓拧紧。 二、电流互感器在作业中二次侧不得开路,一旦二次侧开路,,由于铁损过大,温过高而焚毁,或使 副绕组电压添加而将绝缘击穿,发作高压触电的风险。所以在换接表面时如沟通电流表、有功表、无功表 等应先将电流回路短接后再进行计量表面沟通。当表计调好后,先将其接入二次回路再撤消短接线并查看表计是不是正常。假定在撤消短接线时发现有火花,此刻电流互感器已开路,应当即从头短接,查明计量表面回路确无开路景象时,方可从头撤消短接线。在进行撤消
在电路板中,许多因素会增加“噪声(EMI/RFI)”干扰,从而可能损坏或干扰电子设备的功能。单片机如果受到噪声干扰,可能会导致单片机的程序出错,甚至引起事故发生。今天的汽车就是一个很好的例子,比如Wi-Fi、蓝牙、卫星无线电、GPS系统等等。为了减少这种噪声干扰,业界通常使用屏蔽罩和EMI滤波器来消除有害噪声。 但是现在,消除EMI/RFI的一些传统解决方案已不再足够。当电子设备接收到强大的电磁波时,电路中可能会感应到有害电流,从而导致意外操作或干扰预期的操作。EMI/RFI可以传导或辐射的形
MLCC(多层片式陶瓷电容器)是一种广泛应用于电子设备中的基础元件,其性能的稳定性和可靠性直接影响着整个系统的运行。为了确保MLCC的性能符合要求,对其进行性能测试是必不可少的。本文将介绍MLCC性能测试的常见方法和技术。 一、X射线检测 X射线检测是一种常用的MLCC性能测试方法,它通过分析X射线通过MLCC后的穿透程度,来检测MLCC的内部结构是否正常。这种方法可以检测出MLCC的内部缺陷,如裂纹、气泡、分层等,对于保证MLCC的质量和性能具有重要作用。 二、电性能测试 电性能测试是评估M
芯片作为现代电子设备的核心部件,其测试方法对于保证产品质量和可靠性至关重要。本文将介绍几种常见的芯片测试方法,包括功能测试、边界测试、老化测试、环境测试和自动化测试等。 一、功能测试 功能测试是通过检查芯片的功能是否正常来验证芯片是否符合规格要求。在进行功能测试时,需要将芯片与测试设备连接,并输入已知的输入信号,观察芯片的输出信号是否符合预期。如果芯片的功能正常,则测试通过;否则,测试失败,需要进行故障排查。功能测试通常在芯片研发阶段进行,以确保芯片的功能符合设计要求。 二、边界测试 边界测试
随着嵌入式系统在各个领域的广泛应用,ARM处理器已成为嵌入式系统的首选。然而,对于开发者来说,调试和测试ARM处理器至关重要,因为它们可以帮助我们发现并解决潜在的问题,确保系统的稳定性和性能。本文将介绍ARM处理器的调试和测试方法。 一、调试方法 1. JTAG调试:JTAG是嵌入式系统开发中常用的调试方法。通过JTAG接口,我们可以连接仿真器和调试工具,对ARM处理器进行调试。这种方法简单易行,适用于对硬件了解不深的开发者。 2. 在线调试:在线调试是一种通过ARM Cortex-M内核内置
前言 刚开始编程时,往往会碰到一些根据不同条件执行不同功能的情况,通常都是采用if-else或者switch-case的方式,如果有很多的情况需要区分,则会有很多的else if或者case的代码处理,整个功能实现完成后,一看代码可能会有很多的else if或者case,为了避免这种情况,本编介绍一种开发方法--表驱动方法。 表驱动方法是一种使你可以在表中查找信息,而不必用逻辑语句(if-else或switch-case)来把他们找出来的方法。事实上,任何信息都可以通过表来挑选。在简单的情况下
FreeRTOS平台上使用的按键为ADC-KEY,采用的ADC模块为GPADC。 按键功能驱动的实现是通过ADC分压,使每个按键检测的电压值不同,从而实现区分不同的按键。按下或者弹起中断之后,通过中断触发,主动检测当前电压识别出对应的按键。最后再通过input子系统将获取按键的键值并上报给应用层。 GPADC-Key配置方法 按键结构体定义key_config的成员: struct sunxikbd_config{ unsigned int measure; // 电压阈值 char *nam
栈和队列是比较基础的数据结构。无论在工作中,还是在面试中,栈和队列都用的比较多。在计算机的世界,你会看到队列和栈,无处不在。 栈:一个先进后出的数据结构 队列:一个先进先出的数据结构 栈和队列这两种数据结构,同时也存在某种联系。用栈可以实现队列,用队列也可以实现栈。 两个栈实现一个队列 思路:让数据入stack1,然后栈stack1中的数据出栈并入到栈stack2,然后出stack2。 代码如下: type CQueue struct { stack1, stack2 *list.List}/
两个队列实现一个栈 思路:两个队列实现一个栈,使用了队列交换的思想。 代码如下: type MyStack struct { queue1, queue2 []int}//构造函数func Constructor() (s MyStack) { return}func (s *MyStack) Push(x int) { s.queue2 = append(s.queue2, x) for len(s.queue1) > 0 { s.queue2 = append(s.queue2, s.que
Microstrain提高IMU性能的四种方法 微机电系统(MEMS)陀螺仪和加速度计比以往任何时候都更小、更轻、更强大。目前最先进的芯片比十年前有了飞跃性的进步,使得集成了这些传感器的低成本 MEMS 惯性测量单元(IMU)可以提供与战术级系统相媲美的性能,而这些系统以前只能在昂贵的高端应用中找到。 尽管性能有了大幅提升,但 MEMS 惯性测量单元仍有一些独特的特性需要用户注意。通过在系统中考虑这些特性并遵循良好的 IMU 数据实践,可以确保您的应用获得最佳性能。 以下是一些提高惯性传感器性