使用数字源表测量二极管I－V特性，连接方法分析
2024-09-30一、概念： 二极管是两端口电子器件，支持电流沿着一个方向流动（正向压），并阻碍电流从反方向流动（反向偏压）。无论在研究实验室还是生产线，都要对封装器件或在晶圆上进行二极管I－V测试。 二、数字源表测量优势： 二极管I－V特性分析通常需要高灵敏电流表、电压表、电压源和电流源。对所有分离仪器进行编程、同步和连接，既麻烦又耗时，而且需要大量机架或测试台空间。 S型数字源表简化了测试，缩小机架空间，成为二极管特性分析的理想选择，因为它能够提供电流和电压的源和测量。 三、二极管I－V测试 二极管参数测试
如何测量随偏压变化的MLCC电容
2024-09-29设计人员往往忽略高容量、多层陶瓷电容(MLCC)随其直流电压变化的特性。所有高介电常数或II类电容(B/X5R R/X7R和F/Y5V特性)都存在这种现象。然而，不同类型的MLCC变化量区别很大。Mark Fortunato曾经写过一篇关于该主题的文章，给出的结论是：您应该核对电容的数据资料，确认电容值随偏压的变化。但如果数据资料中未提供这一信息又该如何呢？您如何确定电容在具体应用条件下变小了多少？ 对电容与偏压关系进行特征分析的理论 图1所示为一种测量直流偏压特性的电路。该电路的是运算放大器